反射率測量裝置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP-100UV產品介紹

發(fā)布日期：2025-06-27      瀏覽次數(shù)：366

微小領域、曲面、極薄試樣的高速、高精度測量以未有的低成本實現(xiàn)

澀谷光學利用與中國企業(yè)的合作伙伴關系
提供具有高性價比的反射率測量裝置。



• 光斑尺寸小，可以測量微小點。

• 測量時背面的光不會滲入，因此不需要使用磨砂玻璃或黑色涂裝進行消光處理。

• 可測量鏡頭和平面兩者。

• 操作簡單易用，軟件界面也簡潔。

• 可視光和UV采用背面照射型CCD傳感器，實現(xiàn)了高靈敏度和信噪比

• 紅外線采用InGaAs傳感器，對紅外區(qū)域具有高靈敏度。

• 通過采用特殊半反鏡，可以切割背面反射光，無需背面處理即可在短時間內進行準確測量。
  （可測量薄板0.2㎜的反射率：使用×20倍物鏡時）

• 鏡頭曲面、鍍膜不均也能測量。（在試樣面上連接微小斑點（直徑50μm））

• 即使是對低反射樣品也能在短時間內進行高再現(xiàn)性的測量。（通過的光學設計最大限度地利用光線，512像素的線性PDA，
  16位 A/D轉換器內置，USB2.0接口高速運算實現(xiàn)快速測量）

• 可以進行色度測量、L*a*b*測量。基于分光反射率，可以進行物體測量。

• 可以以Microsoft Excel(R)格式保存數(shù)據。

• 可以對單層膜進行非接觸、非破壞性測量。

• 同一畫面內可顯示多個測量結果，具有顯示功能。測量結果的比較變得容易。

規(guī)格

型番	MSP-100B MSP-100IR MSP-100UV
測定波長	MSP-100B: 350～1100nm MSP-100IR: 900～1700nm MSP-100UV: 230～800nm
測量再現(xiàn)性(B型)	±0.2％(380～450nm) ±0.02％(451～950nm) ±0.2％(951～1050nm)
測定S/N比(B型)	1000:1（400nm-900nm）
試料側N.A.	N.A. 0.12（10×物鏡使用時）
試料的測量范圍	φ50μm（10×物鏡使用時）
試料的曲率半徑	-1R～-∞、+1R～∞
表示分解能	1納米
測定時間	數(shù)秒～十數(shù)秒（采樣時間有所不同）
外形寸法	(寬)230×(高)605×(深)510毫米（僅本體）
重量	15千克
電源單元	供給電源：100-240VAC 消耗功率：80W 輸出燈電壓：5-10VDC 外形尺寸：(W)231×(H)130×(D)220mm 重量：2.5KG 使用溫度范圍：18～28℃ 使用濕度：60％以下(無冷凝現(xiàn)象