一文讀懂！Shibuya-opt MSP-100 系列三款反射率儀怎么選？

發(fā)布日期：2026-01-18      瀏覽次數(shù)：9

Shibuya-opt MSP - 100B、MSP - 100IR、MSP - 100UV 三款反射率測定裝置核心區(qū)別在于測量波長范圍與適配傳感器，選型核心是匹配應(yīng)用的波段需求，同時結(jié)合精度、樣品特性與場景選擇。下面從核心參數(shù)、應(yīng)用場景及選型邏輯展開說明。

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一、核心參數(shù)對比

參數(shù)	MSP - 100B	MSP - 100IR	MSP - 100UV
測量波長	350-1100nm（可見光為主）	900-1700nm（近紅外）	230-800nm（紫外 - 可見光）
核心傳感器	背照式 CCD 傳感器	InGaAs 傳感器	背照式 CCD 傳感器
測量再現(xiàn)性（B 型）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）	±0.2%（380-450nm/951-1050nm）；±0.02%（451-950nm）
測量 S/N 比（B 型）	1000:1（400-900nm）	1000:1（400-900nm）	1000:1（400-900nm）
測量光斑（10× 物鏡）	φ50μm	φ50μm	φ50μm
樣品曲率半徑	-1R 至 +∞（可測曲面）	-1R 至 +∞（可測曲面）	-1R 至 +∞（可測曲面）
核心優(yōu)勢	可見光波段高精度，適配常規(guī)光學檢測	紅外高靈敏度，適合半導體、紅外元件檢測	紫外波段精準，適配光刻膠、UV 涂層等檢測

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二、三款產(chǎn)品核心區(qū)別解析

1. 波段定位差異

• MSP - 100B：覆蓋可見光及少量近紅外，是通用型可見光反射率測量方案，適合多數(shù)常規(guī)光學元件（如鏡頭、AR/AG 鍍膜玻璃）的日常檢測。

• MSP - 100IR：聚焦近紅外波段，針對紅外光學材料、半導體晶圓、紅外傳感器等，能精準捕捉紅外波段反射特性，適配紅外器件研發(fā)與質(zhì)量控制。

• MSP - 100UV：延伸至紫外波段，適配紫外敏感材料，如光刻膠薄膜、UV 固化涂層、紫外光學濾鏡等，滿足半導體光刻、紫外光學元件的高精度檢測需求。

2. 傳感器適配

• MSP - 100B/UV 用背照式 CCD，在可見 / 紫外區(qū)靈敏度高、信噪比優(yōu)；MSP - 100IR 用 InGaAs 傳感器，保障紅外波段高靈敏度，匹配其波段測量需求。

3. 共性優(yōu)勢

   三款均具備 φ50μm 微小光斑測量能力，采用半反射鏡技術(shù)可消除背面反射，無需背面處理即可測薄至 0.2mm 的樣品，支持曲面與平面測量，操作軟件友好，測量快速且重復性強。

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三、選型指南

1. 按應(yīng)用場景選型

   應(yīng)用場景	推薦型號	選型理由
   光學鏡頭、AR/AG 鍍膜、常規(guī)顯示面板	MSP - 100B	可見光波段覆蓋全面，滿足常規(guī)光學產(chǎn)品反射率檢測需求
   半導體晶圓、紅外傳感器、紅外光學元件	MSP - 100IR	近紅外波段適配，匹配紅外器件反射特性分析需求
   光刻膠、UV 涂層、紫外濾鏡、PCB 光刻工藝	MSP - 100UV	紫外波段精準測量，適配紫外敏感材料檢測
   跨波段復合檢測	組合選型（如 B+UV/B+IR）	根據(jù)實際波段覆蓋需求，搭配兩款設(shè)備實現(xiàn)全波段檢測

2. 按樣品特性選型

• 微小區(qū)域（φ50μm）、超薄樣品（0.2mm，20× 物鏡）、曲面樣品：三款均可，優(yōu)先按波段選擇。

• 低反射率樣品：三款通過光學設(shè)計提升集光效率，搭配高靈敏度傳感器，均可快速穩(wěn)定測量，按波段匹配即可。

3. 按精度需求選型

• 451-950nm 波段對精度要求高（±0.02%）：三款均可滿足該波段精度；380-450nm/951-1050nm 精度為 ±0.2%，若側(cè)重紫外 / 紅外邊緣波段，優(yōu)先對應(yīng)型號（UV/IR）。

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四、選型決策流程

1. 明確核心測量波段，確定基礎(chǔ)型號（B/IR/UV）。

2. 確認樣品特性（尺寸、厚度、曲面 / 平面、反射率），三款均適配微小 / 超薄 / 曲面樣品，無需額外篩選。

3. 核對精度需求，重點關(guān)注目標波段的再現(xiàn)性指標。

4. 若需跨波段測量，可組合兩款型號，覆蓋更寬光譜范圍。