日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產品特點

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES

根據測量目標交換并使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型）。

•世界首chuang的便攜式薄層電阻測量裝置，可以替換和使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型） •
只需放置/應用探頭即可自動進行測量
•電池連續(xù)工作時間：24小時（*電池）使用時）
•顯示的數(shù)據數(shù)量：z多100（*從新數(shù)據顯示）

•保存的數(shù)據數(shù)量：z多50,000（*軟件顯示）
•測量數(shù)據傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉換]）， 4位浮點少數(shù)點（0.000至9999）

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

測量規(guī)格

測量目標

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網格，網眼）
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
（*大于每個探頭的測量點尺寸）

<測量點>

?無損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測量范圍

?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探針法）：0.1 -4000Ω/ sq